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金相顯微鏡,是一種高倍透反射觀(guān)察顯微鏡;一般金相顯微鏡主要運用在不透明樣品的觀(guān)察和使用,例如金屬表面的高倍分析、金相組織的觀(guān)察、化工粉末、高分子材料觀(guān)察、電鍍鍍層、涂層厚度觀(guān)察、PCB切片/LED芯片、IC芯片等觀(guān)察分析等這些都是金相顯微鏡反射(也就是反射光觀(guān)察的樣品),透射光的觀(guān)察的樣品一般為半透明或者透明的,例如:ITO導電玻璃、薄膜、中藥/飲片或者粉末等樣品觀(guān)察。
金相顯微鏡可分為正置和倒置兩種,常見(jiàn)金相顯微鏡用可見(jiàn)光作為光源,根據使用者需求,可增加熒光光源實(shí)現熒光觀(guān)察。附加顯微鏡攝像頭和分析軟件,可對觀(guān)察結果進(jìn)行拍照保存、對比、測量和數據分析。
日本東京大學(xué)材料學(xué)院老師此次選用金相顯微鏡MJ42做電鏡樣品(材料)初期篩選,倒置金相顯微鏡MJ42操作簡(jiǎn)便,檢測快速,快速出結果,且結果易觀(guān)察;重復性好,空間定位準確;主要應用于金相組織及表面形態(tài)的顯微觀(guān)察,是金屬學(xué)、礦物學(xué)、材料學(xué)研究的理想儀器。
【本文的標題】金相顯微鏡用于電鏡樣品初期篩選;https://www.mshot.com/article/1142.html
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